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Axio Imager 2

自動化材料分析開放顯微鏡系統
Axio Imager 2

當你進行先進材料研究時，將易用性引入你的光學顯微鏡工作流程。使用 ZEISS Axio Imager 2 獲得材料準確且可重現的結果。選擇符合你應用需求的系統。擴充您的儀器，加入專門的解決方案，例如粒子分析、共焦顯微鏡或相關顯微鏡。

  • 可重現結果
  • 模組化設計
  • 高光學性能

對比技巧的選擇

鑄鐵與球狀石墨，拋光樣品，相同地點，並以不同對比技術拍攝（視野265微米）。圖片來源：由德國凱塞爾斯多夫施泰爾博士提供。斯特耶爾，凱塞爾斯多夫，德國。

明場

達菲爾德

 

偏振（交叉極性）

加其他 lambda 補償器的偏振

環差分干涉對比（C-DIC）

 

人體工學

就像你的表面一樣多面向

Axio Imager.Z2m 或 Axio Imager.M2m 會在觸控螢幕上顯示關鍵操作功能，讓你能用指尖控制所有馬達元件。額外的控制按鈕符合人體工學地圍繞對焦驅動設置，帶有觸感表面，易於辨識。Axio Imager.D2m 有五個預設按鈕，而 Axio Imager.Z2m 則有十個可自訂按鈕。Axio Imager.A2m 是編碼的。

熱顯微鏡

溫度變化的彈性紀錄

你想研究溫度如何影響金屬、晶體、陶瓷或塑膠的行為嗎？

使用 ZEN 核心和 Linkam 加熱階段，你可以定義加熱或冷卻實驗。記錄溫度模式在延時序列中。你得到的結果是每張延時影像中溫度與真空數據的對照。觀察加熱或冷卻過程中的樣品變化，例如在品質控制領域。

應用
材料科學-液晶 在THMS 600 Linkam加熱階段下，100ºC下[C14mim]Br的液晶相，偏振對比，物向：EC EPIPLAN 10x/0.20。
材料科學-液晶 在THMS 600 Linkam加熱階段下，100ºC下[C14mim]Br的液晶相，偏振對比，物向：EC EPIPLAN 10x/0.20。
材料科學-金屬 根據Barker偏振對比度，AlNi3,5陽極化，目標：EC EPIPLAN NEOFLUAR 20x/0.50。圖片：由ACCESS e.V.提供。亞琛工業大學亞琛工業大學鑄造研究所，特拉華州
材料科學-金屬 根據Barker偏振對比度，AlNi3,5陽極化，目標：EC EPIPLAN NEOFLUAR 20x/0.50。圖片：由ACCESS e.V.提供。亞琛工業大學亞琛工業大學鑄造研究所，特拉華州
工業顯微鏡 家具木材表面結構，暗場，物鏡：EC Epiplan APOCHROMAT 10x/0.30
工業顯微鏡 家具木材表面結構，暗場，物鏡：EC Epiplan APOCHROMAT 10x/0.30
材料科學 – 磁性材料 Nd2Fe14B 磁域的克爾效應。
材料科學 – 磁性材料 Nd2Fe14B 磁域的克爾效應。
材料科學 – 碳纖維 用 Axio 成像儀拍攝的碳纖維截面螢光影像
材料科學 – 碳纖維 用 Axio 成像儀拍攝的碳纖維截面螢光影像
太陽能電池 單晶矽太陽能電池表面，Axio 成像儀，EC Epiplan-APOCHROMAT 100x/0.95
太陽能電池 單晶矽太陽能電池表面，Axio 成像儀，EC Epiplan-APOCHROMAT 100x/0.95
交叉極地光顯微鏡下的砂岩複雜多相混合物
交叉極地光顯微鏡下的砂岩複雜多相混合物
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